電子產(chǎn)品老化溫度及時間確認(rèn)
作者：
網(wǎng)絡(luò)
編輯：
瑞凱儀器
來源：
m.gsll88.com
發(fā)布日期： 2021.05.11
所謂老化試驗(yàn)是在不破壞產(chǎn)品失效的基礎(chǔ)上施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力，將其內(nèi)部的潛在缺陷加速變成故障，盡快達(dá)到浴盆曲線中期失效。通常都以溫度作為應(yīng)力而常見，公式參見下面。
SS=1-exp[-0.0017(R+0.6)0.6t]
式中，SS——篩選強(qiáng)度(篩選出的缺陷品數(shù)的平均值/總的潛在缺陷品)
R——高溫與室溫（一般取25℃）的差值
t——恒定高溫持續(xù)時間（h）
e= 2.718282
篩選強(qiáng)度與溫度、時間對應(yīng)表：
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